镀银层X射线膜厚测厚仪

设计亮点
全新的下照式设计，一键式的按钮，让您的鼠标键盘不再成为，大减少您摆放样品的时间。
全新的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现了对较小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头，配合距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等）的异型测试面的测试。

产品名称：X射线镀层测厚仪
型号：Thick 800A
度适应范围为15℃至30℃。
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量般为ppm到99.9%
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
应用领域
金属镀层的厚度测试, 电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
X射线镀层测厚仪广泛应用于电子电器、五金工具、印刷线路板、电镀铝合金企业等。

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