X荧光光谱仪的工作原理基于X射线照射样品时所产生的荧光现象。当一束X射线照射到样品表面时,样品中的原子会吸收X射线能量,这使得一些内层电子被激发并从原子中释放。为了恢复稳定状态,这些原子会从外层电子中捕获电子,释放出特定波长的荧光X射线。这些荧光X射线的波长和强度与样品中元素的种类和数量密切相关,因此可以通过分析荧光X射线来确定样品的成分及其含量。
无需样品前处理:与其他分析方法相比,XRF不需要耗时的样品准备过程,可以直接对固体、液体和粉末等多种形态的样品进行分析。
快速分析:XRF技术能够在短时间内提供的分析结果,相比传统的化学分析方法,其分析速度有显著优势。
高灵敏度和准确度:现代XRF仪器具有的灵敏度,能够检测到ppm(百万分之一)级别的元素含量,并且可以同时分析多种元素。
非破坏性检测:样品在测试过程中不受损害,这使得XRF非常适合于贵重物品或易碎材料的分析。
应用新一代的高压电源和X光管,提高产品的可靠性;利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。
下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的准确性
主要经营江苏天瑞仪器股份有限公司经营的ROHS分析检测仪识别速度快、功能多、精度高,对ROHS及有害元素进行可靠性识别该分析检测仪不仅缩短了测试耗时,而且削减了分析费用。它可以现场完成有害元素的检测和分析。为客户提供加**的产品和加满意的服务,同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、等众多行业提供为完善的行业整体解决方案。
X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。下面我们来简单介绍一下该仪器的原理。
X荧光分析仪主要由X射线源、样品舱、检测器、数据处理系统等部分组成。每一个组件都有其特殊的功能:
- X射线源:产生高能X射线的部分,直接影响测量的灵敏度与准确度。
- 样品舱:用于容纳待分析样品,有时需要真空环境以减少空气对测量的干扰。
- 检测器:负责捕捉荧光信号,现代仪器多采用半导体探测器,例如硅漂移探测器(SDD),它具有高能量分辨率和快速响应的特点。
- 数据处理软件:对捕捉到的信号进行处理,分析后生成各元素的浓度数据。