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X荧光电镀镀层测厚仪,,X荧光测厚仪电镀镀层无损测厚仪xray,不锈钢镀金镀银光谱测厚仪 |
面向地区 |
全国 |
设计亮点
全新的下照式设计，一键式的按钮，让您的鼠标键盘不再成为，大减少您摆放样品的时间。
全新的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现了对较小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头，配合距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等）的异型测试面的测试。
贵金属检测、镀层厚度检测。
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
技术指标
元素分析范围：从硫（S）到铀（U）。
测量对象：固体、液体、粉末
分析检出限可达：ppm。
分析含量一般为：ppm到99.9％
基本组成
荧光测厚仪通常由以下几个部分组成：
- 光源：产生激发光，一般为X射线或特定波长的激光。
- 光谱分析仪：用于分离和检测荧光信号。
- 处理单元：对信号进行处理，计算厚度。
测量过程
测量过程通常包括以下步骤：
1. 样品准备：确保待测表面清洁，无污垢或覆盖物。
2. 激发测量：将荧光测厚仪的探头与样品表面接触，激活光源。
3. 数据采集：光谱分析仪捕获荧光信号，并传输至处理单元。
4. 厚度计算：处理单元根据荧光强度和预设参数计算出样品的厚度。
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